Applications et métrologie à l’échelle nanométrique 1: Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes, Volume 1
About this ebook
Cet ouvrage présente des méthodes expérimentales pour développer et caractériser les matériaux à l’échelle nanométrique, pour des cas pratiques d’applications des ondes électromagnétiques tels que la 5G ou l’hétérodynage en optique. Il traite également des matériaux intelligents par le couplage électromécanique des piézoélectriques, en se focalisant sur la réduction des échelles et sur les applications électromécaniques. L’utilité des méthodes d’analyse statistique basées sur les facteurs de sûreté et sur les techniques de calcul les plus avancées en fiabilité est démontrée pour l’optimisation des systèmes employés dans la caractérisation, l’expérimentation et la conception de produits industriels.
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About the author
Pierre Richard Dahoo est professeur à l’Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines, chercheur au LATMOS et directeur de l’Institut des sciences et techniques des Yvelines.
Philippe Pougnet est un expert en fiabilité et en technologie-produit-processus. Il est ingénieur-docteur de l’Université scientifique et médicale de Grenoble et ingénieur de l’INPG.
Professeur des universités à l’INSA de Rouen Normandie, Abdelkhalak El Hami est spécialiste de la fiabilité et de l’optimisation des systèmes multi-physiques. Il est aussi responsable de plusieurs projets pédagogiques européens et a écrit plus d’une quarantaine d’ouvrages.
